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wafertest测试工艺有哪些?

所属类别:2021-09-14 阅读:627次
       芯片在出厂供应消费者使用前,要进行质量检测,从而避免质量有问题的产品供应消费者,芯片测试由wafertest测试等组成,那么该测试工艺有哪些?
       由于芯片的数据等都很庞大,通过人工测试的措施不容易实现有效的检测,因此一般使用相应的设备进行测试,测试有封装前测试、成品测试等,通过自动化检测设备能有效实现wafertest测试。
       这一测试工艺的流程为,检测设备工程师按照芯片检测的需求,通过了解测试的目的,打造测试的流程,通过设备来检测芯片。由于wafertest测试的模块很多,而且这些模块有不同的测试需求,那么工程师会按照模块检测的需求打造测试流程,通过计算机智能化的设备连接芯片,了解芯片对这些电力信号的反馈,通过了解芯片对这些电力信号的反馈来检测芯片质量是否合格、功能运行的情况,从而淘汰有故障的芯片。
       芯片电力情况额检测有漏电情况检测、DC检测等,通过这一完善的检测流程,芯片的质量情况就能得以了解,质量没有问题的芯片投入使用,而质量有瑕疵的芯片会淘汰。
       wafertest测试要考量成本的投入,因此检测时会先了解常见的缺陷,通过这一检测过滤有缺陷的产品,此外,要进行产品功能检测,了解产品能否正常运行,完善的芯片检测工艺能有效保障芯片质量。

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